边界扫描/JTAG，即 IEEE/ANSI 标准1149.1_1190，是一套设计规则，可以在芯片级、板级和系统级简化测试、器件编程和调试。该标准是联合测试行动小组（JTAG）（由北美和欧洲的几家公司组成）开发的。IEEE 1149.1 标准最初是做为一种能够延长现有自动测试设备（ATE）寿命的片上测试基础结构而开发的。可以从 Texas Instruments 边界扫描页面获得更多信息。利用该标准整合测试设计，允许完全控制和接入器件的边界引脚，而无需不易操作的或其它测试设备。每个符合 JTAG 要求的器件的输入/输出引脚上都包含一个边界单元（如图1所示）。正常情况下，它是透明的和停止运行的，允许信号正常通过。借助于测试模式下的器件，您可以采集输入信号，以备后期分析之用；输出信号可以影响板上的其它器件。
简而言之，IEEE 1449.1 标准定义了一个串行协议。无论封装约束怎样，该协议都要求每个符合标准的器件上要有4个（也可以是5个）引脚。这些引脚定义了测试接入端口（TAP），以便实现片上测试基础设施的操作，从而确保：
- 印刷电路板上的所有器件安装正确并处于正确的位置。
- 器件间的所有互连都与设计所描述的一致。
引脚是：
- TCK - 这是一个时钟信号，用于同步1149.1内部状态机操作。
- TMS - 1149.1内部状态机模式选择信号。该信号在 TCK 的上升沿被采样，用来决定状态机的下一个状态。
- TDI - 1149.1数据输入引脚。当内部状态机处于正确状态时，信号在 TCK 的上升沿被采样，并被移入器件的测试或编程逻辑。
- TDO - 1149.1数据输出引脚。当内部状态机处于正确状态时，该信号代表从器件测试或编程逻辑移出的数据位。 输出数据在 TCK 的下降沿有效。
- TRST（可选） - 1149.1异步复位引脚。当置低时，内部状态机立即进入复位状态。 由于该引脚是可选的，而通常为器件增加引脚会带来额外的成本，因此很少使用。 此外，内部状态机（如标准所定义的）已经明确定义有同步复位机制。
TAP 引脚驱动一个16-状态控制器（状态机）。该状态机的状态根据 TCK 上升沿上 TMS 信号的值进行状态转换。 查看问答数据库内的状态机图解。
图中位于转换弧线旁边的0和1表示 TCK 上升沿处 TMS 信号的逻辑状态。
1149.1标准规定仅在 Shift-DR 或 Shift-IR 状态下 TDI 有效并被移入（TDO 有效并被移出）。 Shift-IR 状态选择 TDI 和 TDO 之间的器件指令寄存器。 根据选择的指令，不同的数据寄存器被激活。 在 Shift-DR 状态下，TDI 和 TDO 之间与先前输入的指令相对应的数据寄存器被选中。 缺省数据寄存器是强制性的1位旁路寄存器。
外部边界扫描描述语言（BSDL）文件规定了任何器件的边界扫描逻辑的特性和特征。这些文件由 IC 制造商提供，用于生成符合 IEEE 1149.1 标准的器件操作的算法描述。
多个边界扫描器件以菊花链形式串接起来。 每个器件共享同样的 TCK 和 TMS 信号。 一个器件的 TDO 连接到下一个器件的 TDI。 由于所有的器件采用同样的 TCK 和 TMS，因此所有器件同时且同步地顺序转换 TAP 控制器状态。因此，所有的器件都处于同一个 TAP 控制器状态下。当将数据（在 Shift-IR 或 Shift-DR 状态）移到边界扫描链中时，所有器件都有寄存器在内部连接在其 TDI 和 TDO 引脚之间。 结果很明显，就是单个固定长度移位寄存器从系统 TDI 引脚转到系统 TDO。
