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STD65N55F3和STD60N55F3
面向工业和汽车应用的低RDS(on)功率MOSFET
产品页面:
STD65N55F3
STD60N55F3
继最近推出
STB180N55F3
和
STB185N55F3
之后,ST扩大了其采用新的STripFET III工艺设计的器件范围。新型STD65N55F3和STD60N55F3可与最佳工业技术相匹敌,以实现采用DPAK 封装的最低RDS(on)值。
定制器件
汽车和工业细分市场的不同要求不是创造多用途器件,而是单个组件。因此,STD60N55F3的主要目标应用是工业市场,而STD65N55F3则面向汽车应用,并且完全符合ST所有的严格的汽车规则。
应用
大电流开关应用
DC / DC 转换器
擦拭系统
PWM 运动控制
PWM 运动控制
柴油机电热塞
"N...F3" 系列功率 MOSFETs
55V "N...F3"系列功率MOSFET源自现在用于低压技术的Multi-Drain工艺,以便显著降低每面积R
DS(on)
。
这些新的"N...F3"系列功率MOSFET的每面积R
DS(on)
比以前的"NF"系列约小40%,这已经在第一批采用D2PAK和TO-220封装的器件上体现出来。事实上,"N...F3"系列具有相同的R
DS(on)
值,只占40%的硅面积。
特性
175°C 工作温度
标准阈值驱动
该温度范围内的典型R
DS(on)
为6.5mOhm
不论是晶圆还是最终部件都100%通过雪崩测试
在STD65N55F3的晶片探针测试过程中采用P.A.T.(零件平均测试)方法。
电气特征
部件编号
V
(BR)DSS
[V]
电压为10V时R
DS(on)
(最大值)
[mOhm]
R
THJ-C
[°C/W]
I
D
[A]
STD65N55F3
STD60N55F3*
55
8.5
1.36
80
*还可以采用IPAK、D2PAK、TO-220和TO-220FP封装
更小栅电荷值
与采用标准STripFET II技术的同等器件STD60NF06相比,STD65N55F3和STD60N55F3都具有更小的栅电荷值。
与以前的STripFET II技术相比,新的Mdmesh低压技术的栅电荷值减小
新款器件的QGD / QGS比约是“NF”系列器件的三分之一。这对于由同时导通造成的交叉传导损耗降至最低非常重要,主要是DC-DC转换器和全桥运动控制应用。
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